【瑞茂光學(xué)】X-RAY芯片檢測設(shè)備 X-7100高解析度X射線檢測儀采用高解析度增強屏和密封微焦X射線管組合的結(jié)構(gòu),通過X射線非破壞性透視檢查,實時觀察到清晰的圖片。另外,強大的軟件測量功能使得檢查效率大大提高。除此之外,通過安裝CNC組件,可以使檢測過程變得更輕松、快捷。全數(shù)碼X射線檢查機X-7100全系采用數(shù)字平板探測器及X射線集成數(shù)碼影像截取技術(shù)。
X-RAY芯片檢測設(shè)備X-7100進行芯片檢測實圖成像。
BGA芯片檢測成像樣圖(1)
芯片金屬線檢測成像樣圖(2)
X-RAY芯片檢測設(shè)備X-7100,不光能進行芯片檢測,同時還可應(yīng)用于IGBT半導(dǎo)體檢測、鋰電池檢測、汽車零部件進行X光射線檢測。