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現在，隨著人們對電子產品質量和可靠性要求的不斷提高，對芯片的品質要求也越來越高。芯片在研制、生產和使用過程中失效不可避免，因此，芯片檢測分析工作也顯得越來越重要。通過分析，可以幫助設計人員找到芯片設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題，這就需要用到芯片檢測設備——X-RAY設備。
為了能夠有效地對芯片的質量進行準確的檢測，國內市面上也相繼出現了很多的檢測設備，不過，常見的AOI、超聲波檢測總是存在著這樣那樣的不足，比如，AOI是對產品的外觀進行檢測，不能對產品的內部進行檢測；超聲波檢測雖然屬于無損檢測，但它卻無法對檢測結果進行更好地保存。
通過實踐證明，X-Ray無損檢測設備在芯片檢測的時效和成本上具有非常明顯的優勢。X-RAY無損檢測的優勢在于，它不僅能夠對產品的內部缺陷進行檢測，而且還可以把產品的分析投影以影像的形式進行保存，這種檢測方式對于后期的分析、比對起到了十分關鍵的作用。
由于國家相關職能部門對于電子產品質量的檢測把關越來越嚴格，因此，對芯片檢測行之有效的X-RAY無損檢測設備也得到了更加廣泛的應用。國內專業X-RAY設備生產廠家瑞茂光學推出的X-RAY無損檢測設備X-7100，可以無損檢測芯片低于5微米缺陷，高清成像可系統放大1000倍，能夠對芯片進行精準、高效的無損檢測，而且操作簡單，使用壽命長，受到了眾多電子生產商的青睞。
